GB-T2423.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗A：低溫試驗方法.pdf

5  試驗描述

5.1  總則

試驗Ab、試驗Ad和試驗Ae是相似的，差異見(jiàn)5.2.2、5.3.2和5.4.2，從第6章開(kāi)始的其他部分是這些試驗共同的，試驗箱內的溫度變化速率不應超過(guò)1K/min（不超過(guò)5min時(shí)間的平均值）。相關(guān)規范應規定試驗樣品試驗時(shí)的功能要求。

應注意試驗樣品的任何冷卻裝置要符合相關(guān)規范的要求。

5.2  試驗 Ab：非散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗

5.2.1  目的

本試驗方法用來(lái)進(jìn)行非散熱試驗樣品的低溫試驗，試驗樣品在低溫條件下放置足夠長(cháng)時(shí)間以達到溫度穩定。

5.2.2 概述

將試驗樣品放入溫度為試驗室溫度的試驗箱中，然后將溫度調節到符合相關(guān)規范規定的嚴酷等級溫度。當試驗樣品溫度達到穩定后，在該條件下暴露到規定的持續時(shí)間。對于試驗時(shí)需要通電運行的試驗樣品（即使它們不屬于散熱試驗樣品），應在試驗樣品溫度達到穩定后通電，根據需要進(jìn)行功能檢測。這種情況下，可能還需要一段時(shí)間達到溫度穩定，然后試驗樣品在該低溫條件下暴露到相關(guān)規范規定的持續時(shí)間。

試驗樣品通常在非工作狀態(tài)下進(jìn)行試驗。本試驗通常采用高氣流速度循環(huán)。

5.3 試驗 Ad：散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗——試驗樣品在溫度開(kāi)始穩定后通電

5.3.1  目的

本試驗方法用來(lái)進(jìn)行散熱試驗樣品的低溫試驗，試驗樣品在低溫條件下放置足夠長(cháng)時(shí)間以達到溫度穩定。

5.3.2 概述

如果需要，可通過(guò)試驗確定試驗箱能否滿(mǎn)足低氣流速度的要求。將試驗樣品放入溫度為試驗室溫度的試驗箱中，然后將溫度調節到符合相關(guān)規范規定的嚴酷等級溫度。

給試驗樣品通電或加電負載，檢查試驗樣品以確定其功能是否符合相關(guān)規范的要求，試驗樣品應按照相關(guān)規范規定的工作循環(huán)和負載條件（如可行時(shí)）處于運行狀態(tài)。

當試驗樣品的溫度達到穩定后，在該條件下暴露到相關(guān)規范規定的持續時(shí)間。本試驗通常采用低氣流速度循環(huán)。

5.4  試驗 Ae：散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗——試驗樣品在整個(gè)試驗過(guò)程通電

5.4.1  目的

本試驗方法用來(lái)進(jìn)行散熱試驗樣品的低溫試驗，試驗樣品在低溫條件下放置足夠長(cháng)時(shí)間以達到溫度穩定，并且要求試驗樣品在整個(gè)試驗過(guò)程中通電。5.4.2  概述

如果需要，可通過(guò)試驗確定試驗箱能否滿(mǎn)足低氣流速度的要求，將試驗樣品放入溫度為試驗室溫度的試驗箱中，給試驗樣品通電并根據需要進(jìn)行功能檢測（見(jiàn)5.4.3）。

然后將溫度調節到符合相關(guān)規范規定的嚴酷等級溫度。當試驗樣品的溫度達到穩定后，在該條件下暴露到規定的持續時(shí)間。

本試驗通常采用低氣流速度循環(huán). 

5.4.3  給試驗樣品通電

然后給試驗樣品通電或加電負載，檢查試驗樣品以確定其功能是否符合相關(guān)規范的要求。試驗樣品應按照相關(guān)規范規定的工作循環(huán)和負載條件（如可行時(shí)）處于運行狀態(tài)。